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粉末衍射法测定晶体结构（套装上下册）书籍详细信息
- ISBN：9787030304735
- 作者：暂无作者
- 出版社：暂无出版社
- 出版时间：2011-3
- 页数：696
- 价格：98.00元
- 纸张：暂无纸张
- 装帧：暂无装帧
- 开本：暂无开本
- 语言：未知
- 丛书：暂无丛书
- TAG：暂无
- 豆瓣评分：暂无豆瓣评分
内容简介：
《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》简要介绍了X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基础概念、X射线粉末衍射的实验方法和衍射强度的测量。系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常熟的精确测量以及新型化合物晶体结构测定的各种方法。
书籍目录：
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作者介绍：
2003年4月第1版 2011年3月第2版，有2012年1月3印本
出版社信息：
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书籍摘录：
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原文赏析：
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其它内容：
书籍介绍
《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》简要介绍了X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基础概念、X射线粉末衍射的实验方法和衍射强度的测量。系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常熟的精确测量以及新型化合物晶体结构测定的各种方法。
书籍真实打分
故事情节：6分
人物塑造：9分
主题深度：8分
文字风格：5分
语言运用：4分
文笔流畅：3分
思想传递：8分
知识深度：3分
知识广度：7分
实用性：9分
章节划分：4分
结构布局：4分
新颖与独特：6分
情感共鸣：5分
引人入胜：8分
现实相关：4分
沉浸感：6分
事实准确性：6分
文化贡献：4分
网站评分
书籍多样性：4分
书籍信息完全性：6分
网站更新速度：7分
使用便利性：9分
书籍清晰度：5分
书籍格式兼容性：8分
是否包含广告：3分
加载速度：4分
安全性：5分
稳定性：6分
搜索功能：5分
下载便捷性：4分
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- 少量广告(143+)
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下载评价
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